型号 |
品牌 |
封装 |
数量 |
描述 |
参数 |
PDF资料 |
SN74ABT18646PM |
Texas Instruments
|
64-LQFP |
249 |
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
逻辑类型:扫描测试设备,带收发器和寄存器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT18646PMG4 |
Texas Instruments
|
64-LQFP |
0+2080 |
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP |
逻辑类型:扫描测试设备,带收发器和寄存器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT18652PM |
Texas Instruments
|
64-LQFP |
357 |
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP |
逻辑类型:扫描测试设备,带收发器和寄存器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT18652PMG4 |
Texas Instruments
|
64-LQFP |
0+1920 |
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP |
逻辑类型:扫描测试设备,带收发器和寄存器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8245DW |
Texas Instruments
|
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
387 |
IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数... |
 |
SN74ABT8245DWE4 |
Texas Instruments
|
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
0+4500 |
IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数... |
 |
SN74ABT8245DWG4 |
Texas Instruments
|
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
0+4500 |
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数... |
 |
SN74ABT8245DWR |
Texas Instruments
|
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数... |
 |
SN74ABT8245DWRE4 |
Texas Instruments
|
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数... |
 |
SN74ABT8245DWRG4 |
Texas Instruments
|
24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数... |
 |
SN74ABT8543DL |
Texas Instruments
|
28-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) |
100 |
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DLG4 |
Texas Instruments
|
28-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) |
0+1120 |
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DLR |
Texas Instruments
|
28-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DLRG4 |
Texas Instruments
|
28-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DW |
Texas Instruments
|
28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
548 |
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DWE4 |
Texas Instruments
|
28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DWG4 |
Texas Instruments
|
28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DWR |
Texas Instruments
|
28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DWRE4 |
Texas Instruments
|
28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |
SN74ABT8543DWRG4 |
Texas Instruments
|
28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
|
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
... |
 |