| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 参数 | PDF资料 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABT18646PM | Texas Instruments | 64-LQFP | 249 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18646PMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+2080 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18652PM | Texas Instruments | 64-LQFP | 357 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18652PMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+1920 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8245DW | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 387 | IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT8245DWE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4500 | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT8245DWG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4500 | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT8245DWR | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | ||
| SN74ABT8245DWRE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | ||
| SN74ABT8245DWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | ||
| SN74ABT8543DL | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 100 | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8543DLG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1120 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8543DLR | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT8543DLRG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT8543DW | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 548 | IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8543DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT8543DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT8543DWR | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT8543DWRE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT8543DWRG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
