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SN74ABT8543DWE4

Texas Instruments 28-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
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简述:IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
参考包装数量:20
参考包装形式:管件

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型号 品牌 封装 数量 描述 部分参数
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SN74ABT8543DWE4参数资料

PDF资料下载:

逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数:8
工作温度:-40°C ~ 85°C
安装类型:表面贴装

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