| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT18646PM |
Texas Instruments | 64-LQFP | 249 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP 参考包装数量：160 参考包装形式：托盘 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT18646PMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+2080 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT18652PM | Texas Instruments | 64-LQFP | 357 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT18652PMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+1920 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18640DLG4 | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1080 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
