型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
---|---|---|---|---|---|
SN74ABT8245DWG4 |
Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | 0+4500 | 询价QQ: |
|
简述:IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 参考包装数量:25 参考包装形式:管件 |
型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
---|---|---|---|---|---|
SN74ABT8245DWR | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
SN74ABT8245DWRE4 | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
SN74ABT8245DWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
SN74ABT8245DWE4 | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | 0+4500 | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
SN74ABT8245DW | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | 387 | IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
SN74ABT823NTE4 | Texas Instruments | 24-DIP(0.300",7.62mm) | IC 9BIT BUS-INTRFC F-F 24-DIP | 功能:主复位 类型:D 型总线 输出类型:三态非反相 元件数:1 每个元件的位元... |