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SN74ABT8245DWR

Texas Instruments 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
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简述:IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
参考包装数量:2000
参考包装形式:带卷 (TR)

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型号 品牌 封装 数量 描述 部分参数
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SN74ABT8245DWR参数资料

PDF资料下载:

逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数:8
工作温度:-40°C ~ 85°C
安装类型:表面贴装

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