| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT8245DWR |
Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC 参考包装数量：2000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT8245DWRE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT8245DWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT827DBR | Texas Instruments | 24-SSOP（0.209"，5.30mm 宽） | 0+12000 | IC BUFF/DVR TRI-ST 10BIT 24SSOP | 逻辑类型：缓冲器/线路驱动器，非反相 元件数：1 每个元件的位元数：10 输出电... |
| SN74ABT8245DWG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4500 | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
| SN74ABT8245DWE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4500 | IC SCAN TEST DEVICE 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
| SN74ABT8245DW | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 387 | IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
