| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 参数 | PDF资料 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| SN7497N | Texas Instruments | 16-DIP（0.300"，7.62mm） | 963+19875 | IC SYNC 6BIT BIN RATE MULT 16DIP | 逻辑类型：二进制比率倍增器 电源电压：4.75 V ~ 5.25 V 位数：6 ... | |
| SN7497NE4 | Texas Instruments | 16-DIP（0.300"，7.62mm） | 0+19875 | IC SYNC 6BIT BIN RATE MULT 16DIP | 逻辑类型：二进制比率倍增器 电源电压：4.75 V ~ 5.25 V 位数：6 ... | |
| SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | 56-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | 3936+14000 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | ||
| SN74ABT18245ADLG4 | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | ||
| SN74ABT18245ADLR | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+34000 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT18245ADLRG4 | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+34000 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT18502PM | Texas Instruments | 64-LQFP | 194 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18502PMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+9600 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+3000 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18502PMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+3000 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18504PM | Texas Instruments | 64-LQFP | 276 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+9920 | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT18640DGGR | Texas Instruments | 56-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT18640DL | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 103 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18640DLG4 | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1080 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | ||
| SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
