| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT8543DWRE4 |
Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC 参考包装数量：1000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT8543DWRG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT861DW | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 250 | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | 逻辑类型：收发器，非反相 元件数：1 每个元件的位元数：10 输出电流高，低：3... |
| SN74ABT861NT | Texas Instruments | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 102 | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24DIP | 逻辑类型：收发器，非反相 元件数：1 每个元件的位元数：10 输出电流高，低：3... |
| SN74ABT8543DWR | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8543DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8543DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
