| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT8952DWE4 |
Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC 参考包装数量：20 参考包装形式：管件 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT8952DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWR | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWRE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DW | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 220 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DLRG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8952DLR | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
