| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
|---|---|---|---|---|---|
SN74ABT8952DWR |
Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | 询价QQ： |
|
| 简述：IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC 参考包装数量：1000 参考包装形式：带卷 (TR) |
|||||
| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABT8952DWRE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWRG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8996DW | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | 逻辑类型：可寻址扫描端口 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数：10 工作... | |
| SN74ABT8952DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DW | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 220 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
