| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT8952DLRG4 |
Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 闂傚倸鍊搁崐鎼佸磹閹间礁纾归柣鎴ｅГ閸婂潡鏌ㄩ弴妤€浜惧銈庝簻閸熸潙鐣疯ぐ鎺濇晪闁告侗鍨伴弫鎼佹⒒娓氣偓閳ь剛鍋涢懟顖涙櫠閹殿喚纾奸弶鍫涘妼濞搭喗顨ラ悙瀛樺磳妤犵偞甯掗埞鎴﹀醇濠靛洤鈧垶姊婚崒娆愮グ妞ゆ洘鐗犲畷褰掝敍閻愭潙鈧潡鏌ㄩ弬鍨挃闁活厼顦甸弻鐔兼倻濡崵鍘搁梺绋款儐閹瑰洭寮幇顓熷劅闁炽儴灏欓崙瑙勭節閻㈤潧浠滈柟鍐茬箻閹囨偐瀹割喗缍庨梺鎯х箺椤鐣锋径鎰厪濠电偛鐏濋崝婊堟煟濠靛嫬鐏叉慨濠冩そ閹兘寮堕幐搴敤闂備胶鎳撻崵鏍箯閿燂拷0755-83217923 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP 参考包装数量：1000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT8952DW | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 220 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DLR | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74ABT8952DLG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+8400 | IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DL | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 100 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
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