| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT8952DWRE4 |
Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC 参考包装数量：1000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT8952DWRG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8996DW | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | 逻辑类型：可寻址扫描端口 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数：10 工作... | |
| SN74ABT8996DWR | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC ADDRESSABLE SCAN PORT 24-SOIC | 逻辑类型：可寻址扫描端口 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数：10 工作... | |
| SN74ABT8952DWR | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+2000 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT8952DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4520 | IC SCAN TESST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
