型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT18504PMG4 |
Texas Instruments | 64-LQFP | 0+9920 | 询价QQ: |
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简述:IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP 参考包装数量:160 参考包装形式:托盘 |
型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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SN74ABT18504PMR | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 逻辑类型:扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V ... | |
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | 逻辑类型:扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V ... | |
SN74ABT18640DGGR | Texas Instruments | 56-TFSOP(0.240",6.10mm 宽) | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | 逻辑类型:扫描测试设备,带反相总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V ... | |
SN74ABT18504PM | Texas Instruments | 64-LQFP | 276 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型:扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V ... |
SN74ABT18502PMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+3000 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V ... |
SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+3000 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V ... |