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首页 > 集成电路 (IC) > 逻辑 - 专用逻辑 > SN74ABT18245ADLG4
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SN74ABT18245ADLG4

Texas Instruments 56-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) 闂傚倷鐒﹀鍨熆閳ь剛绱掗幓鎺濈吋闁诡垯鐒︾粋鎺斺偓锝庡亝濞呮牠姊虹捄銊ユ珢闁瑰嚖鎷�0755-83217923
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简述:IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP
参考包装数量:20
参考包装形式:管件

与SN74ABT18245ADLG4相近的型号

型号 品牌 封装 数量 描述 部分参数
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SN74ABT18245ADLRG4 Texas Instruments 56-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) 0+34000 IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP 逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数...
SN74ABT18502PM Texas Instruments 64-LQFP 194 IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP 逻辑类型:扫描测试设备,带寄存总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V ...
SN74ABT18245ADL Texas Instruments 56-BSSOP(0.295",7.50mm 宽) IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP 逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数...
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SN74ABT18245ADLG4参数资料

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逻辑类型:扫描测试设备,带总线收发器
电源电压:4.5 V ~ 5.5 V
位数:18
工作温度:-40°C ~ 85°C
安装类型:表面贴装

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