| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT18245ADLRG4 |
Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+34000 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP 参考包装数量：1000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT18502PM | Texas Instruments | 64-LQFP | 194 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT18502PMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+9600 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+3000 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带寄存总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABT18245ADLR | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+34000 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
| SN74ABT18245ADLG4 | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | 56-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
