型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74LVTH18504APM |
Texas Instruments | 64-LQFP | 405 | 询价QQ: |
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简述:IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP 参考包装数量:160 参考包装形式:托盘 |
型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+5280 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型:ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:2.7 V ~ 3.... |
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+5000 | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | 逻辑类型:ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:2.7 V ~ 3.... |
SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | 48-TFSOP(0.240",6.10mm 宽) | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | 逻辑类型:通用总线收发器 输入数:- 电路数:18 位 输出电流高,低:32mA... | |
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+15000 | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | 逻辑类型:ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:2.7 V ~ 3.... |
SN74LVTH18502APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+2080 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型:ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:2.7 V ~ 3.... |
SN74LVTH18502APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 339 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型:ABT 扫描测试设备,带通用总线收发器 电源电压:2.7 V ~ 3.... |