| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74LVTH18504APMG4 |
Texas Instruments | 64-LQFP | 0+5280 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP 参考包装数量：160 参考包装形式：托盘 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+5000 | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH18511DGGR | Texas Instruments | 48-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | IC UNIV BUS TXRX 18BIT 48TSSOP | 逻辑类型：通用总线收发器 输入数：- 电路数：18 位 输出电流高，低：32mA... | |
| SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | 64-TFSOP （0.240"，6.10mm 宽） | 0+30000 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：18 位 输出电流高，低：... |
| SN74LVTH18504APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 405 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+15000 | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH18502APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+2080 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
