| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74BCT8373ADWR |
Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 参考包装数量：2000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74BCT8373ANT | Texas Instruments | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 60+840 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74BCT8373ADWG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+100 | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74BCT8373ADWE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+100 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+100 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
