| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74BCT8373ADWG4 |
Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+100 | 闂傚倸鍊烽悞锕€顪冮崹顕呯唵闁逞屽墰缁辨帡骞撻幒婵堝悑闂佽鍨悞锔剧矉閹烘柡鍋撻敐搴′簼婵炲懏鐗犲铏规崉閵娿儲鐝㈤梺鐟板殩閹凤拷0755-83217923 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 参考包装数量：25 参考包装形式：管件 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74BCT8373ADWRE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74BCT8373ADWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... | |
| SN74BCT8373ADWE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+100 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74BCT8373ADW | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+100 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型锁存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74BCT8245ANTE4 | Texas Instruments | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
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