| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74BCT8244ADW |
Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1850 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC 参考包装数量：25 参考包装形式：管件 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74BCT8244ADWE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1850 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带缓冲器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数：8... |
| SN74BCT8244ADWG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1850 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带缓冲器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数：8... |
| SN74BCT8244ADWR | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带缓冲器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数：8... | |
| SN74BCT8240ANTE4 | Texas Instruments | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相缓冲器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74BCT8240ANT | Texas Instruments | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相缓冲器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
| SN74BCT8240ADWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带反相缓冲器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V 位数... |
