型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74BCT8240ANT |
Texas Instruments | 24-DIP(0.300",7.62mm) | 询价QQ: |
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简述:IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP 参考包装数量:60 参考包装形式:管件 |
型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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SN74BCT8240ANTE4 | Texas Instruments | 24-DIP(0.300",7.62mm) | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | 逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
SN74BCT8244ADW | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | 0+1850 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带缓冲器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数:8... |
SN74BCT8244ADWE4 | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | 0+1850 | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带缓冲器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数:8... |
SN74BCT8240ADWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
SN74BCT8240ADWRE4 | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... | |
SN74BCT8240ADWR | Texas Instruments | 24-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | 逻辑类型:扫描测试设备,带反相缓冲器 电源电压:4.5 V ~ 5.5 V 位数... |