| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 参数 | PDF资料 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABT8646DL | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 125 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8646DLG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1160 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8646DLR | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1000 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8646DLRG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1000 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8646DW | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 113 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8646DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8646DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8646DWR | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8646DWRE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8646DWRG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8652DL | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 135 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8652DLG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+4320 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8652DLR | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8652DLRG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8652DW | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 60+1060 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8652DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1060 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8652DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1060 | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8652DWR | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8652DWRE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | ||
| SN74ABT8652DWRG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... |
