| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABT8646DLRG4 |
Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1000 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP 参考包装数量：1000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABT8646DW | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | 113 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... |
| SN74ABT8646DWE4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8646DWG4 | Texas Instruments | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABT8646DLR | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1000 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... |
| SN74ABT8646DLG4 | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 0+1160 | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... |
| SN74ABT8646DL | Texas Instruments | 28-BSSOP（0.295"，7.50mm 宽） | 125 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... |
