| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74LVTH182512DGGR |
Texas Instruments | 64-TFSOP （0.240"，6.10mm 宽） | 4000+58000 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP 参考包装数量：2000 参考包装形式：带卷 (TR) |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+8000 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 253 | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH18502APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 339 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 180 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH182502APMR | Texas Instruments | 64-LQFP | 491+2000 | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
| SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 196 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | 逻辑类型：ABT 扫描测试设备，带通用总线收发器 电源电压：2.7 V ~ 3.... |
