| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74BCT8374ANT |
Texas Instruments | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP 参考包装数量：60 参考包装形式：管件 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74BCT8374ANTE4 | Texas Instruments | 24-DIP（0.300"，7.62mm） | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 电源电压：4.5 V ~ 5... | |
| SN74CB3Q16210DGGR | Texas Instruments | 48-TFSOP（0.240"，6.10mm 宽） | 0+24000 | IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP | 类型：FET 总线开关 电路：10 x 1:1 独立电路：2 输出电流高，低：1... |
| SN74CB3Q16210DGVR | Texas Instruments | 48-TFSOP（0.173"，4.40mm 宽） | 0+14000 | IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TVSOP | 类型：FET 总线开关 电路：10 x 1:1 独立电路：2 输出电流高，低：1... |
| SN74BCT8374ADWRG4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 电源电压：4.5 V ~ 5... | |
| SN74BCT8374ADWRE4 | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 电源电压：4.5 V ~ 5... | |
| SN74BCT8374ADWR | Texas Instruments | 24-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） | IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC | 逻辑类型：扫描测试设备，带 D 型边沿触发式触发器 电源电压：4.5 V ~ 5... |
