| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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SN74ABTH18646APM |
Texas Instruments | 64-LQFP | 333 | 询价QQ： |
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| 简述：IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP 参考包装数量：160 参考包装形式：托盘 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| SN74ABTH18646APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+12160 | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| SN74ABTH18652APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 205 | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... |
| SN74ABTH18652APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带总线收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 ... | |
| SN74ABTH18504APMR | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：20 位 输出电流高，低：... | |
| SN74ABTH18504APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+2240 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：20 位 输出电流高，低：... |
| SN74ABTH18504APM | Texas Instruments | 64-LQFP | 344 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：20 位 输出电流高，低：... |
