| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
|---|---|---|---|---|---|
GP2S27T6J00F |
Sharp Microelectronics | 4-SMD | 询价QQ： |
||
| 简述：PHOTOINTERRUPTER REFLEC .8MM SMD 参考包装数量：1000 参考包装形式：带卷 (TR) |
|||||
| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
|---|---|---|---|---|---|
| GP2S27TJ000F | Sharp Microelectronics | 4-SMD | PHOTOINTERRUPTER REFLEC .7MM SMD | 检测距离：0.028"（0.7mm） 检测方法：反射 电压 - 集电极发射极击穿... | |
| GP2S28 | Sharp Microelectronics | PCB 安装 | PHOTOINTERRUPTER REFLEC 6MM PCB | 检测距离：0.551"（14mm） 检测方法：反射 电压 - 集电极发射极击穿（... | |
| GP2S40 | Sharp Microelectronics | PCB 安装 | PHOTOINTERRUPTER REFLEC 6.5MM PC | 检测距离：0.256"（6.5mm） 检测方法：反射 电压 - 集电极发射极击穿... | |
| GP2S27T3J00F | Sharp Microelectronics | 4-SMD | PHOTOINTERRUPTER REFL 0.7MM SMD | 检测距离：0.028"（0.7mm） 检测方法：反射 电压 - 集电极发射极击穿... | |
| GP2S27T2J00F | Sharp Microelectronics | 4-SMD | 1000 | PHOTOINTERRUPTER REFL 0.7MM SMD | 检测距离：0.028"（0.7mm） 检测方法：反射 电压 - 集电极发射极击穿... |
| GP2S27T | Sharp Microelectronics | 4-SMD | PHOTOINTERRUPTER REFLEC .8MM SMD | 检测距离：0.031"（0.8mm） 检测方法：反射 电压 - 集电极发射极击穿... |
