| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 在线询价 | 在线订购 |
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74ABTH182652APMG4 |
Texas Instruments | 64-LQFP | 闂傚倸鍊搁崐鐑芥倿閿曗偓椤啴宕归鍛數闂侀€炲苯澧扮紒杈ㄥ浮楠炴捇骞掑┑鍫濇倯闂備浇顕栭崹顖炴倿閿斿墽鐭夐柟鐑樻煛閸嬫捇鏁愭惔鈥茬凹濠电偛鎳忛悧鐘差潖閾忚宕夐柕濞垮劜閻濄垽姊洪悷鏉挎闁瑰嚖鎷�0755-83217923 询价QQ： |
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| 简述：IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP 参考包装数量：160 参考包装形式：托盘 |
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| 型号 | 品牌 | 封装 | 数量 | 描述 | 部分参数 |
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| 74ABTH18502APMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：18 位 输出电流高，低：... | |
| 74ABTH18504APMRG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：20 位 输出电流高，低：... | |
| 74AC00MTC | Fairchild Semiconductor | 14-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） | 7040 | IC GATE NAND QUAD 2INPUT 14TSSOP | 逻辑类型：与非门 电路数：4 输入数：2 特点：- 电源电压：2 V ~ 6 V... |
| 74ABTH182646APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+160 | IC 18BIT SCAN TEST DEV 64-LQFP | 逻辑类型：扫描测试设备，带收发器和寄存器 电源电压：4.5 V ~ 5.5 V ... |
| 74ABTH182504APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：20 位 输出电流高，低：... | |
| 74ABTH182502APMG4 | Texas Instruments | 64-LQFP | 0+21920 | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64LQFP | 逻辑类型：扫描测试通用总线收发器 输入数：- 电路数：18 位 输出电流高，低：... |
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